| 供應(yīng)商 | 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司 店鋪 |
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| 認(rèn)證 | |
| 報(bào)價(jià) | 面議 |
| 關(guān)鍵詞 | 電鏡分析,SEM+EDS測(cè)試,掃描電鏡,形貌觀察和成分分析 |
| 所在地 | 江蘇省昆山市玉山鎮(zhèn)南淞路299號(hào) |
4年
優(yōu)爾鴻信昆山檢測(cè)中心第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測(cè)能力及CNAS資質(zhì)，能及時(shí)有效的提供檢測(cè)服務(wù)
包含：環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、尺寸量測(cè)、材料機(jī)械性能測(cè)試、化學(xué)成分分析、清潔度測(cè)試等
SEM+EDS分析：
高能電子束轟擊樣品表面，激發(fā)各種信號(hào)?？梢詫?duì)陶瓷、金屬、粉末、塑料等樣品進(jìn)行形貌觀察及成分分析：
SEM主要利用背散射電子（BEI）和二次電子（SEI）來(lái)成像
EDS通過特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息。
SEM+EDS測(cè)試原理：
SEM：利用陰極所發(fā)射的電子束經(jīng)陽(yáng)極加速，由磁透鏡加速后形成一束直徑為幾十埃到幾千埃的電子束流，這束高能電子束轟擊到樣品表面會(huì)激發(fā)多種信息，經(jīng)過分別收集，放大就能從顯示屏上得到各種相應(yīng)的圖像
EDS： 入射電子束可停留在被觀察區(qū)域上的任何位置.X射線在直徑1微米的體積內(nèi)產(chǎn)生,可對(duì)試樣表面元素的分布進(jìn)行質(zhì)和量的分析。
SEM+EDS主要檢測(cè)范圍
1.表面微觀結(jié)構(gòu)觀察及微小顆粒物尺寸量測(cè)
2.微薄鍍層厚度測(cè)量
3.表面失效分析（異色、腐蝕、損傷等檢測(cè)）；
4.表面相分析、夾雜物鑒別等；
5.金屬斷口分析；
6.焊接或合成界面分析；
7.錫須觀察
掃描電子顯微鏡（掃描電鏡SEM）：一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品, 通過光束與物質(zhì)間的相互作用, 來(lái)激發(fā)各種物理信息, 對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。
所屬分類：檢測(cè)服務(wù)/材料檢測(cè)
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