| 供應(yīng)商 | 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司 店鋪 |
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| 認(rèn)證 | |
| 報(bào)價(jià) | 面議 |
| 關(guān)鍵詞 | 蘇州信號(hào)完整性檢測(cè),信號(hào)完整性檢測(cè) |
| 所在地 | 江蘇省昆山市玉山鎮(zhèn)南淞路299號(hào) |
4年
通過(guò)模態(tài)分析與S參數(shù)測(cè)試，識(shí)別背板諧振頻率及能量分布，優(yōu)化背板層壓結(jié)構(gòu)與接地過(guò)孔布局，降低25G/100G以太網(wǎng)系統(tǒng)的帶內(nèi)諧振噪聲，提升通信設(shè)備信道容量。
通過(guò)諧振腔法或傳輸線法測(cè)量PCB基材的介電常數(shù)（Dk）與損耗因子（Df），為112Gbps以上高速鏈路提供材料選型依據(jù)，降低介質(zhì)損耗對(duì)信號(hào)衰減的影響。
部署基于云平臺(tái)的分布式電磁仿真引擎，加速多工況、多參數(shù)組合的高速鏈路優(yōu)化迭代，支撐復(fù)雜系統(tǒng)級(jí)SI/PI協(xié)同設(shè)計(jì)需求。
量化時(shí)鐘源至接收端的抖動(dòng)傳遞函數(shù)（JTF），識(shí)別PLL、時(shí)鐘樹(shù)及電源噪聲對(duì)系統(tǒng)抖動(dòng)的貢獻(xiàn)，優(yōu)化時(shí)鐘架構(gòu)設(shè)計(jì)，滿足JEDEC標(biāo)準(zhǔn)對(duì)DDR5內(nèi)存時(shí)序精度的嚴(yán)苛要求。
針對(duì)封裝（如FCBGA、SiP）的微凸點(diǎn)與再布線層（RDL），評(píng)估信號(hào)路徑的阻抗控制與串?dāng)_抑制能力，優(yōu)化高速信號(hào)在2.5D/3D集成中的傳輸效率，滿足HPC與AI芯片的多Die互連需求。
驗(yàn)證USB4/DP Alt Mode等多協(xié)議復(fù)用通道的信號(hào)完整性兼容性，優(yōu)化復(fù)用開(kāi)關(guān)與阻抗切換電路設(shè)計(jì)，確保多功能接口的協(xié)議自適應(yīng)能力。
所屬分類：檢測(cè)服務(wù)/性能檢測(cè)
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