全新設(shè)計的XTEST分析軟件
軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法(FP),經(jīng)驗系數(shù)法(EC),可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正,即所有基質(zhì)效應(yīng),增強和吸收。
譜顯示:峰定性,KLM標記,譜重疊比較,可同時顯示多個光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng),將光峰強度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法,具有分散比的基本參數(shù)(對于包含大量低Z材料的樣品)或通過簡單的小二乘擬合進行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標準,多個標準或沒有標準的樣品。
鐵精粉光譜儀通常采用光學(xué)原理,包括可見光、紅外光和紫外光等波長范圍。它通過將樣品暴露在特定波長的光下,測量樣品對光的吸收、散射或發(fā)射等特性,然后根據(jù)這些特性獲得樣品的光譜信息。利用鐵精粉光譜儀,可以對鐵精粉樣品的化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)、雜質(zhì)含量和物理性。
儀器類型
手持式礦石光譜儀:體積小、重量輕,方便攜帶,可隨時隨地進行現(xiàn)場檢測。能快速對礦石進行無損檢測,幾秒鐘內(nèi)便可顯示分析結(jié)果,無需人員操作。如奧林巴斯手持式光譜儀,廣泛應(yīng)用于礦區(qū)勘探,可快速準確地識別不同類型的礦石,分析礦石樣品的元素成分。
臺式礦石光譜儀:結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜,通常具有更高的分辨率和檢測精度,可分析的元素范圍廣,能同時分析多種元素。如天瑞儀器生產(chǎn)的 EDX3600B 臺式 X 熒光光譜分析儀,分析速度快,2 - 5 分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素,且測量精度高,可分析的元素范圍從 Na 到 U。
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