掃描電鏡（Scanning Electron Microscopy，SEM）是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù)，可用于對形貌和表面特征進行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡，SEM不需要樣本薄片，可以直接對樣品進行觀察，因此適用于分析各種形狀和大小的樣品。 SEM分析過程中，樣品表面被電子束轟擊后，會產(chǎn)生二次電子和背散射電子。這些電子會被探測器捕捉并轉(zhuǎn)換為電信號，形成圖像。SEM圖像具有高分辨率和高對比度，可以顯示出樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)和形貌特征
優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)昆山檢測中心具備掃描電鏡分析能力（SEM&EDS分析），可針對表面異物分析、IMC形貌觀察、錫須觀察、焊點失效分析等進行分析測試。放大倍率可達30萬倍;EDS通過樣品表面激發(fā)出的特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息,準確精度達0.5%。該機臺是質(zhì)量檢驗、失效分析中不可缺少的設(shè)備
SEM+EDS分析：
高能電子束轟擊樣品表面，激發(fā)各種信號。可以對陶瓷、金屬、粉末、塑料等樣品進行形貌觀察及成分分析：
SEM主要利用背散射電子（BEI）和二次電子（SEI）來成像
EDS通過特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息。
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