我公司秉承質(zhì)量，顧客至上的原則，竭誠為國內(nèi)外廣大客戶朋友提供*的服務(wù)
希望通過我們的真誠與努力能夠成為您長期的合作伙伴，共創(chuàng)輝煌！用戶的需求在時(shí)間作出反應(yīng)，為用戶提供*產(chǎn)品及的服務(wù)。
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??????免費(fèi)安裝?????提供化學(xué)分析方法
??????免費(fèi)調(diào)試?????提供分析工藝流程
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儀器實(shí)行終身服務(wù)???實(shí)行二十四小時(shí)響應(yīng)

產(chǎn)品特點(diǎn) 1.小型化、、高速度、易操作，高靈敏度、分析 2.可同時(shí)分析40種元素 3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù) 4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復(fù)性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率 5.記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計(jì)，雙真空抽速機(jī)構(gòu)，真空度自動(dòng)穩(wěn)定系統(tǒng) 6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件，多任務(wù)，多窗口操作 7.薄膜濾光片技術(shù)，有效提高輕元素檢出限

全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件 軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質(zhì)效應(yīng)，增強(qiáng)和吸收。 譜顯示：峰定性，KLM標(biāo)記，譜重疊比較，可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的小二乘擬合進(jìn)行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個(gè)多元素標(biāo)準(zhǔn)，多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。

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