電子產(chǎn)品銷毀之磁盤(pán)數(shù)據(jù)銷毀的原因：
由于磁盤(pán)使用的是磁性介質(zhì)的存儲(chǔ)原理和數(shù)據(jù)的讀寫(xiě)方法，普通的數(shù)據(jù)銷毀方法，如低級(jí)格式化和數(shù)據(jù)刪除，不能完全清除之前存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。操作系統(tǒng)和磁盤(pán)的隱性操作將產(chǎn)生剩余數(shù)據(jù)。為了避免使用殘差回收原始數(shù)據(jù)信息，造成安全泄漏的風(fēng)險(xiǎn)，在磁盤(pán)崩潰或修復(fù)之前，捐贈(zèng)的磁盤(pán)數(shù)據(jù)應(yīng)該按照不同的種類分類銷毀。

廢舊電子產(chǎn)品處理絕不僅僅是直接填埋或是直接焚毀這么簡(jiǎn)單，因?yàn)殡娮赢a(chǎn)品中含有大量重金屬，使用這兩種方造成環(huán)境的嚴(yán)重破壞，填埋有毒有害玩具會(huì)致使土地資源被污染，嚴(yán)重的可能會(huì)污染至地下水；導(dǎo)致喝過(guò)污染水的人畜患上惡性疾病，而焚燒有毒如果沒(méi)有的處理，極易造成大氣污染以及有毒氣體蔓延，造成不可想象的災(zāi)難，

對(duì)于大部分電子產(chǎn)品，壽命是主要的可靠性特征量。因此，可靠性試驗(yàn)往往指的就是壽命試驗(yàn)。壽命試驗(yàn)可分為非工作狀態(tài)的存儲(chǔ)壽命試驗(yàn)和工作狀態(tài)的工作壽命試驗(yàn)兩類。為了縮短試驗(yàn)周期、減少樣品數(shù)量和試驗(yàn)費(fèi)用，常常采用加速壽命試驗(yàn)。而在電子產(chǎn)品加速壽命試驗(yàn)中，常用的應(yīng)力為溫度和電壓。

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