供應商	北京瑞科中儀科技有限公司店鋪
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關鍵詞	ZEISS掃描顯微鏡,掃描顯微鏡代理商,靜安掃描顯微鏡,掃描顯微鏡代理
所在地	北京市海淀區(qū)建材城西路50號2號樓3層031室

產(chǎn)品詳細介紹

配合不同探測器的選擇，使Sigma 廣泛地適用于您的應用：無論是正在開發(fā)的新材料、用于質量檢查的顆粒還是生物或地質標本，該電鏡可助您研究各種樣品。在極端條件下，利用可變壓力（VP）成像，借助NanoVPlite，即使在低電壓下，也能在非導體上獲得出色的圖像和分析結果。

掃描電鏡圖像的形成需要各個系統(tǒng)相互配合，電子光學系統(tǒng)為掃描電鏡提供的電子束，信號探測系統(tǒng)將電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的信號進行采集與處理。電子光學系統(tǒng)內(nèi)容請參考往期文章，本篇主要對掃描電鏡的信號探測系統(tǒng)進行介紹。

掃描電鏡可以采集多種不同類型的信號用于成像和分析，其中二次電子(SE)和背散射電子(BSE)信號是基本也是常見的兩種信號類型。
不同廠家和型號的電鏡在采集SE，BSE信號時所用的探測器都具有各自特的技術，但旁置式二次電子探測器和極靴下背散射電子探測器在架構和工作原理方面相對固定，應用也很廣泛，因此本文只會對旁置式二次電子探測器和極靴下背散射電子探測器進行介紹。

掃描電鏡及X射線能譜儀或電子探針為準確鑒定鋼中非金屬夾雜物屬性提供了非?？煽康募夹g，他可以將D類等非金屬夾雜物的二維和三維形貌、與所含元素的X射線元素面分布圖、與其內(nèi)含有元素或所含簡單氧化物的重量百分數(shù)和原子百分數(shù)定量分析結果有機結合起來，對這種D類非金屬夾雜物給出一個全新的詮釋。由此，作者提出了非金屬夾雜物的相結構概念，用“復相夾雜物”代替目前常用的“復雜夾雜物”或“復合夾雜物”，重新認識這個對鋼性能有重要影響的D類非金屬夾雜物，與業(yè)界同行商榷。

使用全新樣品定位方法創(chuàng)建多視角（ Multiview）數(shù)據(jù)
使用折射率 n=1.38 的 Scale 介質（Hama 等，Nat Neurosci 期刊，2011 年），或折射率 n=1.45 的水性澄清液（例如：CelExplorer Labs 公司生產(chǎn)的 FocusClear? 產(chǎn)品）進行透明處理的組織來完成實驗
使用可選的觸發(fā)界面維持生理條件，充分發(fā)揮成像信息和環(huán)境條件控制兩者相結合的優(yōu)勢
光透技術

組織透明處理技術能夠讓您深入大型生物樣品內(nèi)，例如：組織切片、大腦、胚胎、器官球狀體或活組織切片。您可以使用增強的光學穿透深度來捕獲整個器官的熒光信號。這也令其成為一項具有發(fā)展前景的技術，例如：檢測小鼠大腦神經(jīng)元網(wǎng)絡。

掃描電子顯微鏡是利用材料表面微區(qū)的特征（如形貌、原子序數(shù)、化學成分、或晶體結構等）的差異，在電子束作用下通過試樣不同區(qū)域產(chǎn)生不同的亮度差異，從而獲得具有一定襯度的圖像。成像信號是二次電子、背散射電子或吸收電子，其中二次電子是主要的成像信號[2]。圖3為其成像原理圖，高能電子束轟擊樣品表面，激發(fā)出樣品表面的各種物理信號，再利用不同的信號探測器接受物理信號轉換成圖像信息。

掃描電鏡除能檢測二次電子圖像以外，還能檢測背散射電子、透射電子、特征x射線、陰極發(fā)光等信號圖像。其成像原理與二次電子像相同。在進行掃描電鏡觀察前，要對樣品作相應的處理。
對樣品的要求
1、不會被電子束分解
2、在電子束掃描下熱穩(wěn)定性要好
3、能提供導電和導熱通道
4、大小與厚度要適于樣品臺的安裝
5、觀察面應該清潔，物
6、進行微區(qū)成分分析的表面應平整
7、磁性試樣要預先去磁，以免觀察時電子束受到磁場的影響

掃描電鏡及X射線能譜儀或電子探針為準確鑒定鋼中非金屬夾雜物屬性提供了非?？煽康募夹g，他可以將D類等非金屬夾雜物的二維和三維形貌、與所含元素的X射線元素面分布圖、與其內(nèi)含有元素或所含簡單氧化物的重量百分數(shù)和原子百分數(shù)定量分析結果有機結合起來，對這種D類非金屬夾雜物給出一個全新的詮釋。由此，作者提出了非金屬夾雜物的相結構概念