電子產(chǎn)品銷毀范圍:
對于硬盤芯片銷毀、集成電路銷毀、主板銷毀、線路板銷毀、控制器銷毀、硬盤銷毀、數(shù)據(jù)設(shè)備銷毀的銷毀(包括消磁)還沒有具體明確的管理規(guī)定,目前,國家有關(guān)主管部門正在考慮制定相應(yīng)的規(guī)范,確保涉密硬盤等存儲介質(zhì)在維修銷毀過程中的安全。
廢舊電子產(chǎn)品處理絕不僅僅是直接填埋或是直接焚毀這么簡單,因為電子產(chǎn)品中含有大量重金屬,使用這兩種方造成環(huán)境的嚴重破壞,填埋有毒有害玩具會致使土地資源被污染,嚴重的可能會污染至地下水;導(dǎo)致喝過污染水的人畜患上惡性疾病,而焚燒有毒如果沒有的處理,極易造成大氣污染以及有毒氣體蔓延,造成不可想象的災(zāi)難,
電子產(chǎn)品檢測中心告訴您:電子產(chǎn)品質(zhì)量檢驗都測試些什么東西
1、濕熱試驗
濕度范圍:30%RH~RH。
2、沖擊試驗
按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份:試驗方式 沖擊試驗》開展沖擊試驗。沖擊加速度范圍:(50~1500)m/s2。
3、低溫試驗
溫度范圍:-70℃~10℃。
4、跌落試驗
按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份:試驗方式 傾跌與翻到試驗》;
GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份:試驗方式 自由跌落試驗》開展跌落試驗。
5、碰撞試驗
按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份:試驗方式 碰撞試驗》開展碰撞試驗。
6、低氣壓試驗
開展低氣壓試驗,高、低溫/低氣壓試驗。范圍:70℃~100℃0~760mmHg20%~95%RH。
7、振動試驗
頻率范圍(機械振動臺):5~60Hz(定頻振動5~80Hz),位移振幅3.5mm(滿載)。頻率范圍(電磁振動臺):5~3000Hz,位移25mmP-P。
8、高溫試驗
溫度范圍:10℃~210℃。
9、鹽霧試驗
按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份:試驗方式 鹽霧試驗》開展鹽霧試驗。
10、霉菌試驗
按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份:試驗方式 長霉試驗》開展霉菌試驗。
我們經(jīng)常會遇到例如電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測電子產(chǎn)品是否接觸不良、是否有噪音、表面是否銹蝕、開裂、變形等情況,這時我們需要采用的儀器抗壓測試儀,絕緣電阻,波形采用的是示波器;電流/電壓等用萬用電表等來做電子產(chǎn)品檢測!
所屬分類:物資回收/銷毀
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