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SEM+EDS分析EDS檢測(cè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)

更新時(shí)間1:2025-09-14 信息編號(hào):212m1k045057c6 舉報(bào)維權(quán)
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供應(yīng)商 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司 店鋪
認(rèn)證
報(bào)價(jià) 面議
關(guān)鍵詞 SEM掃描,形貌觀察,EDS分析,SEM測(cè)試
所在地 江蘇省昆山市玉山鎮(zhèn)南淞路299號(hào)
楊先生
򈊡򈊨򈊩򈊡򈊢򈊧򈊣򈊧򈊡򈊧򈊦 448135625

4年

產(chǎn)品詳細(xì)介紹

優(yōu)爾鴻信昆山檢測(cè)中心 材料測(cè)試實(shí)驗(yàn)室主要功能:
1. SEM+EDS分析
2. 3D X-RAY檢測(cè)&斷層掃描分析
3. 超聲波掃描(C-SAM)分析
4. 切片(Cross Section)分析
5. 紅墨水(Dye&Pry)分析
6. 焊點(diǎn)推拉力(Bonding Test)
7. 芯片開封測(cè)試(IC-Decapping)
8. 沾錫能力測(cè)試
9. 離子濃度測(cè)試
10. 表面絕緣阻抗(SIR)測(cè)試

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)昆山檢測(cè)中心SEM+EDS分析通過CNAS認(rèn)可,可執(zhí)行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)GB/T17359-2012, JY/T0584-2020,JEDEC-KESD22-A121A-2008(2014)等

SEM+EDS測(cè)試原理:
SEM:利用陰極所發(fā)射的電子束經(jīng)陽(yáng)極加速,由磁透鏡加速后形成一束直徑為幾十埃到幾千埃的電子束流,這束高能電子束轟擊到樣品表面會(huì)激發(fā)多種信息,經(jīng)過分別收集,放大就能從顯示屏上得到各種相應(yīng)的圖像

所屬分類:檢測(cè)服務(wù)/材料檢測(cè)

本文鏈接:http://www.gefucs.com/sell/info-212m1k045057c6.html

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