礦石光譜儀通常由光源、光柵、檢測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成。光源發(fā)出特定波長的光束,經(jīng)過光柵的分光作用,將光束分成不同波長的光線。這些光線經(jīng)過礦石樣品后,部分被吸收、反射或透射。檢測器會測量礦石樣品在不同波長下的光強度,并將數(shù)據(jù)傳輸給數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。
分析性能,使其可以輕松完成對以下礦種的測試: 鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等) 銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等) 鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等) 鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等) 鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等) 鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等) 鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等) 鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等) 鋁土礦 其它礦類
全新設(shè)計的XTEST分析軟件
軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法(FP),經(jīng)驗系數(shù)法(EC),可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正,即所有基質(zhì)效應(yīng),增強和吸收。
譜顯示:峰定性,KLM標記,譜重疊比較,可同時顯示多個光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng),將光峰強度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法,具有分散比的基本參數(shù)(對于包含大量低Z材料的樣品)或通過簡單的小二乘擬合進行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標準,多個標準或沒有標準的樣品。
鐵精粉光譜儀通常采用光學(xué)原理,包括可見光、紅外光和紫外光等波長范圍。它通過將樣品暴露在特定波長的光下,測量樣品對光的吸收、散射或發(fā)射等特性,然后根據(jù)這些特性獲得樣品的光譜信息。利用鐵精粉光譜儀,可以對鐵精粉樣品的化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)、雜質(zhì)含量和物理性。
礦石光譜儀是一種用于分析礦石成分和結(jié)構(gòu)的儀器,以下是關(guān)于它的一些介紹:
工作原理
主要基于 X 射線熒光光譜分析技術(shù)。當 X 射線照射到礦石樣品時,會激發(fā)樣品中元素原子的內(nèi)層電子,使其躍遷至高能級。當這些高能級電子回落到低能級時,會釋放出具有特定能量的特征 X 射線。探測器捕獲這些特征 X 射線并將其轉(zhuǎn)換成電信號,數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)通過分析電信號,得到礦石樣品中各種元素的含量信息。
特點優(yōu)勢
快速:能在短時間內(nèi)獲取礦石的成分信息,大大提高了勘探和分析效率。
無損檢測:不會對礦石樣品造成損害,有利于后續(xù)的深入研究和分析。
多元素檢測:可以同時對礦石中的多種元素進行檢測,覆蓋范圍廣,為礦產(chǎn)勘探提供全面的元素分析數(shù)據(jù)。
操作簡便:儀器的操作界面通常較為簡潔,即使是非人員也能快速上手。
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