配合不同探測器的選擇，使Sigma 廣泛地適用于您的應(yīng)用：無論是正在開發(fā)的新材料、用于質(zhì)量檢查的顆粒還是生物或地質(zhì)標(biāo)本，該電鏡可助您研究各種樣品。在極端條件下，利用可變壓力（VP）成像，借助NanoVPlite，即使在低電壓下，也能在非導(dǎo)體上獲得出色的圖像和分析結(jié)果。
由于高濃度的瓊脂糖濃度會影響部分活體樣本的發(fā)育和狀態(tài)，瓊脂糖濃度太低又會影響樣品的穩(wěn)定性，此時，我們可以選擇將樣品圍封在FEP管中。
適合樣品：折射率和FEP、瓊脂糖相似的樣品，如斑馬魚、果蠅、線蟲、擬南介等。
樣品大?。浩脚_配有不同規(guī)格的FEP管，具體圍封方式類似于包埋方式。
圍封樣品模式圖
掃描電鏡圖像的形成需要各個系統(tǒng)相互配合，電子光學(xué)系統(tǒng)為掃描電鏡提供的電子束，信號探測系統(tǒng)將電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的信號進行采集與處理。電子光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)容請參考往期文章，本篇主要對掃描電鏡的信號探測系統(tǒng)進行介紹。
蔡司熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡SIGMA 500采用Gemini電子束非交叉光路設(shè)計，突破了傳統(tǒng)設(shè)計中電子束交叉三次造成能量擴散的限制。束流適中，大大降低了色差對成像質(zhì)量的影響。鏡頭鏡筒內(nèi)置電子束加速器，無需切換減速模式即可實現(xiàn)的低電壓成像。低20V可成像，樣品類型不受限制。透鏡鏡筒物鏡采用靜電透鏡和電磁透鏡相結(jié)合的方式，在工作距離范圍內(nèi)沒有磁場，可在高倍率下觀察磁性材料。環(huán)形二次電子探測器In-Lens安裝在鏡筒的正光路上。圓柱形一體化超大樣品室配備5軸全自動中心樣品臺，可容納直徑250mm的超大樣品。同一品牌的電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡可以組合觀察(可選)，只有一個通用的樣品架和配套的軟件是Shuttle&Find，可以充分發(fā)揮光鏡和電子鏡各自的優(yōu)勢
蔡司解決方案在增材制造領(lǐng)域的應(yīng)用范圍覆蓋粉末和材料分析，所使用的設(shè)備包括光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡、X射線技術(shù)。
使用光學(xué)顯微鏡來測試金屬粉末的粒徑分布
使用SEM掃描電鏡對3D打印金屬粉末的球形度和實心性進行分析
使用CT對粉末顆粒的寬高比和粒徑進行分析
對于內(nèi)部缺陷，蔡司的解決方案也能輕松檢測，比如微裂紋、分層、疲勞裂紋、盈利、孔隙率、粉末殘留物和氣孔等。
掃描電鏡除能檢測二次電子圖像以外，還能檢測背散射電子、透射電子、特征x射線、陰極發(fā)光等信號圖像。其成像原理與二次電子像相同。在進行掃描電鏡觀察前，要對樣品作相應(yīng)的處理。
對樣品的要求
1、不會被電子束分解
2、在電子束掃描下熱穩(wěn)定性要好
3、能提供導(dǎo)電和導(dǎo)熱通道
4、大小與厚度要適于樣品臺的安裝
5、觀察面應(yīng)該清潔，物
6、進行微區(qū)成分分析的表面應(yīng)平整
7、磁性試樣要預(yù)先去磁，以免觀察時電子束受到磁場的影響
玉林蔡司場發(fā)射顯微鏡代理
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產(chǎn)品名：場發(fā)射顯微鏡
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