優(yōu)爾鴻信檢測昆山檢測中心SEM+EDS分析通過CNAS認(rèn)可，可執(zhí)行的測試標(biāo)準(zhǔn)GB/T17359-2012, JY/T0584-2020,JEDEC-KESD22-A121A-2008(2014)等

EDS： 入射電子束可停留在被觀察區(qū)域上的任何位置.X射線在直徑1微米的體積內(nèi)產(chǎn)生,可對試樣表面元素的分布進(jìn)行質(zhì)和量的分析。

掃描電鏡測試的過程包括以下幾個(gè)步驟：
1）樣品準(zhǔn)備：根據(jù)測試目的選擇合適的樣品，并進(jìn)行表面處理，如清洗、干燥等。
2）安裝與調(diào)試：將樣品安裝在掃描電鏡測試設(shè)備的樣品臺(tái)上，并進(jìn)行設(shè)備的調(diào)試和校準(zhǔn)，以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
3）數(shù)據(jù)采集與處理：通過掃描電鏡設(shè)備采集樣品的表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)圖像數(shù)據(jù)，并對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理和計(jì)算，得到樣品的各種參數(shù)和性能指標(biāo)。
4）結(jié)果分析與評估：根據(jù)測試數(shù)據(jù)，對樣品的表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析和評估，包括形貌特征、尺寸分布、晶體結(jié)構(gòu)等。