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200.00元廣州掃描電鏡 :掃描電鏡觀察 技術(shù)參數(shù): 基本規(guī)格 蔡司 GeminiSEM 300 熱場發(fā)射電子槍,穩(wěn)定性優(yōu)于0.2 %/h 加速電壓 0.02 - 30 kV 探針電流 3 pA - 20..10月01日
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SEM+EDS分析: 放大倍數(shù): 5~30萬倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的: 微區(qū)成分分..10月01日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機構(gòu),具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì),能及時有效的提供檢測服務(wù) 包含:環(huán)境可靠性測試、機械可靠性測試、尺寸量測、材料機械性能測試、化學成分分析、清..10月01日
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SEM+EDS分析: 放大倍數(shù): 5~30萬倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的: 微區(qū)成分分..10月01日
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TESCAN--場發(fā)射掃描電鏡 MIRA 新一代的MIRA場發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了新的技術(shù)優(yōu)點(如改進的電子設(shè)備使成像過程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補償,有內(nèi)置的編程軟件等)..09月28日
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500.00元成都第三方機構(gòu) 優(yōu)爾鴻信檢測實驗室配有場發(fā)射掃描電鏡、鎢絲燈掃描電鏡、FIB聚焦離子束、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等電子元件及半導(dǎo)體檢測設(shè)備,可針對電子元件,半導(dǎo)體部件進行質(zhì)量檢測和失效分..09月27日
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優(yōu)爾鴻信成都檢測實驗室配有場發(fā)射掃描電鏡、鎢絲燈掃描電鏡、FIB聚焦離子束、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等電子元件及半導(dǎo)體檢測設(shè)備,可針對電子元件,半導(dǎo)體部件進行質(zhì)量檢測和失效分析服務(wù)。 場..09月26日
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FIB200電鏡/FIB200聚焦離子束/FEI FIB/FEI SEM/FEI 聚焦離子束/FEI 掃描電鏡/美國FEI掃描電鏡/賽默飛聚焦離子束/掃描電鏡雙束系/電鏡型號:Strata 400/Helios NanoLab 400/400S/450S/600i。FI..06月10日
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北京國產(chǎn)掃描電子顯微鏡-桌面型掃描電鏡-SEM顯微鏡價格 TEL:15-301-310-116 秉承操作便捷、快速成像、性能穩(wěn)定的設(shè)計目標,澤攸科技自主研發(fā)了鎢燈絲臺式掃描電鏡ZEM15。 ZEM15..04月18日
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優(yōu)爾鴻信檢測昆山檢測中心SEM+EDS分析通過CNAS認可,可執(zhí)行的測試標準GB/T17359-2012, JY/T0584-2020,JEDEC-KESD22-A121A-2008(2014)等場掃描電鏡對樣品要求,如下: 1.樣品要盡可能干燥,若..10月01日
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SEM+EDS分析: 放大倍數(shù): 5~30萬倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的: 微區(qū)成分分..10月01日
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優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團華南檢測中心)成立于1996年,是一家全國性、綜合性的獨立第三方檢測服務(wù)機構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺、成都、重慶等全國主要城市設(shè)有專業(yè)實驗室22個,主要..10月01日
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優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團華南檢測中心)成立于1996年,是一家全國性、綜合性的獨立第三方檢測服務(wù)機構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺、成都、重慶等全國主要城市設(shè)有專業(yè)實驗室22個,主要..10月01日
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優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)昆山檢測中心 SEM+EDS分析測試范圍 1.IMC檢查(IMC Inspection) 2.錫須觀察(Tin Whisker Inspection) 3.元素分析(Element Analysis) 4.金屬顆粒觀察(Observation of me..10月01日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機構(gòu),具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì),能及時有效的提供檢測服務(wù) 包含:環(huán)境可靠性測試、機械可靠性測試、尺寸量測、材料機械性能測試、化學成分分析、清..10月01日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機構(gòu),具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì),能及時有效的提供檢測服務(wù) 包含:環(huán)境可靠性測試、機械可靠性測試、尺寸量測、材料機械性能測試、化學成分分析、清..10月01日
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面議優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機構(gòu),具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì),能及時有效的提供檢測服務(wù) 包含:環(huán)境可靠性測試、機械可靠性測試、尺寸量測、材料機械性能測試、化學成分分析、清..10月01日
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面議掃描電鏡(Scanning Electron Microscopy,SEM)是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù),可用于對形貌和表面特征進行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡,SEM不需要樣本薄片,可以直接對樣品進行觀察..10月01日
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面議優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)昆山檢測中心具備掃描電鏡分析能力(SEM&EDS分析),可針對表面異物分析、IMC形貌觀察、錫須觀察、焊點失效分析等進行分析測試。放大倍率可達30萬倍;EDS通過樣品表面激發(fā)出的..10月01日
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SEM+EDS分析: 放大倍數(shù): 5~30萬倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的: 微區(qū)成分分..10月01日
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黃頁88網(wǎng)提供2025最新掃描電鏡SEM價格行情,提供優(yōu)質(zhì)及時的掃描電鏡SEM圖片、多少錢等信息。批發(fā)市場價格表的產(chǎn)品報價來源于共3家掃描電鏡SEM批發(fā)廠家/公司提供的12849條信息匯總。