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美國舊掃描電鏡儀器進(jìn)口報關(guān)公司 24H咨詢熱線：17688682776 李先生 偉順進(jìn)出口致力于創(chuàng)新和開發(fā)國際海運、國際多式聯(lián)運運輸、境外工程項目門到門、倉儲、報關(guān)、監(jiān)裝、監(jiān)卸、中轉(zhuǎn)、08月08日 -
200.00元廣州掃描電鏡 :掃描電鏡觀察 技術(shù)參數(shù)： 基本規(guī)格 蔡司 GeminiSEM 300 熱場發(fā)射電子槍，穩(wěn)定性優(yōu)于0.2 %/h 加速電壓 0.02 - 30 kV 探針電流 3 pA - 20..09月25日
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中國掃描電鏡行業(yè)深度調(diào)研及發(fā)展前景研究報告2024-2030年【報告編號】55875【出版日期】2024年07月【交付方式】電子版或特快專遞【報告價格】【紙質(zhì)版】:6500 【電子版】:6800 【合訂版】:700..09月25日
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TESCAN--場發(fā)射掃描電鏡 MIRA 新一代的MIRA場發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了新的技術(shù)優(yōu)點（如改進(jìn)的電子設(shè)備使成像過程更快，快速掃描系統(tǒng)包括了動態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補償，有內(nèi)置的編程軟件等）..09月24日
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優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測中心)成立于1996年，是一家全國性、綜合性的獨立第三方檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺、成都、重慶等全國主要城市設(shè)有專業(yè)實驗室22個，主要..09月25日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì)，能及時有效的提供檢測服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測試、機(jī)械可靠性測試、尺寸量測、材料機(jī)械性能測試、化學(xué)成分分析、清..09月25日
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優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測中心)成立于1996年，是一家全國性、綜合性的獨立第三方檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺、成都、重慶等全國主要城市設(shè)有專業(yè)實驗室22個，主要..09月25日
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優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)昆山檢測中心 SEM+EDS分析測試范圍 1.IMC檢查（IMC Inspection） 2.錫須觀察（Tin Whisker Inspection） 3.元素分析（Element Analysis） 4.金屬顆粒觀察（Observation of me..09月25日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì)，能及時有效的提供檢測服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測試、機(jī)械可靠性測試、尺寸量測、材料機(jī)械性能測試、化學(xué)成分分析、清..09月25日
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面議掃描電鏡（Scanning Electron Microscopy，SEM）是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù)，可用于對形貌和表面特征進(jìn)行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡，SEM不需要樣本薄片，可以直接對樣品進(jìn)行觀察..09月25日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì)，能及時有效的提供檢測服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測試、機(jī)械可靠性測試、尺寸量測、材料機(jī)械性能測試、化學(xué)成分分析、清..09月25日
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面議優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì)，能及時有效的提供檢測服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測試、機(jī)械可靠性測試、尺寸量測、材料機(jī)械性能測試、化學(xué)成分分析、清..09月25日
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面議掃描電鏡（Scanning Electron Microscopy，SEM）是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù)，可用于對形貌和表面特征進(jìn)行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡，SEM不需要樣本薄片，可以直接對樣品進(jìn)行觀察..09月25日
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面議優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)昆山檢測中心具備掃描電鏡分析能力（SEM&EDS分析），可針對表面異物分析、IMC形貌觀察、錫須觀察、焊點失效分析等進(jìn)行分析測試。放大倍率可達(dá)30萬倍;EDS通過樣品表面激發(fā)出的..09月25日
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SEM+EDS分析： 放大倍數(shù): 5~30萬倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的： 微區(qū)成分分..09月25日
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產(chǎn)品簡介： “TM4000”和“TM4000Plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認(rèn)到生成報告等一系列的操作過程，大幅提高了工作效率。還標(biāo)配了報告生成功能，觀察結(jié)束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成Mi..09月22日
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FlexSEM1000是日立高新公司最新推出的一款機(jī)型小巧性能優(yōu)異的鎢燈絲電鏡，擁有大束流和低球差的物鏡和聚光鏡設(shè)計，配備了高分辨率二次電子探頭及高靈敏度五分割背散射探頭，具有卓越的09月22日
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500.00元優(yōu)爾鴻信檢測成都實驗室配有場發(fā)射掃描電鏡、鎢絲燈掃描電鏡、FIB聚焦離子束、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等電子元件及半導(dǎo)體檢測設(shè)備，可針對電子元件，半導(dǎo)體部件進(jìn)行質(zhì)量檢測和失效分析服務(wù)。 場..09月20日
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500.00元優(yōu)爾鴻信成都檢測實驗室配有場發(fā)射掃描電鏡、鎢絲燈掃描電鏡、FIB聚焦離子束、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等電子元件及半導(dǎo)體檢測設(shè)備，可針對電子元件，半導(dǎo)體部件進(jìn)行質(zhì)量檢測和失效分析服務(wù)。 場..09月19日
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450.00元優(yōu)爾鴻信成都檢測SMT實驗室，多年從事SMT制程質(zhì)量檢測及電子元器件失效分析服務(wù)。 掃描電子顯微鏡（簡稱SEM）是一種利用聚焦電子束掃描樣品表面，并通過探測電子與樣品相互作用產(chǎn)生的信號（..09月19日
日本掃描電鏡相關(guān)
黃頁88網(wǎng)提供2025最新日本掃描電鏡價格行情，提供優(yōu)質(zhì)及時的日本掃描電鏡圖片、多少錢等信息。批發(fā)市場價格表的產(chǎn)品報價來源于共3家日本掃描電鏡批發(fā)廠家/公司提供的347830條信息匯總。
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