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二手掃描電鏡

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  • 美國(guó)舊掃描電鏡儀器進(jìn)口報(bào)關(guān)公司
    美國(guó)舊掃描電鏡儀器進(jìn)口報(bào)關(guān)公司 24H咨詢熱線:17688682776 李先生 偉順進(jìn)出口致力于創(chuàng)新和開發(fā)國(guó)際海運(yùn)、國(guó)際多式聯(lián)運(yùn)運(yùn)輸、境外工程項(xiàng)目門到門、倉(cāng)儲(chǔ)、報(bào)關(guān)、監(jiān)裝、監(jiān)卸、中轉(zhuǎn)、
    08月08日
  • 江蘇掃描電鏡觀察工業(yè)分析檢測(cè)中心
    廣州掃描電鏡 :掃描電鏡觀察 技術(shù)參數(shù): 基本規(guī)格 蔡司 GeminiSEM 300 熱場(chǎng)發(fā)射電子槍,穩(wěn)定性優(yōu)于0.2 %/h 加速電壓 0.02 - 30 kV 探針電流 3 pA - 20..
    09月30日
  • 中國(guó)掃描電鏡行業(yè)深度調(diào)研及發(fā)展前景研究報(bào)告2024-2030年
    中國(guó)掃描電鏡行業(yè)深度調(diào)研及發(fā)展前景研究報(bào)告2024-2030年【報(bào)告編號(hào)】55875【出版日期】2024年07月【交付方式】電子版或特快專遞【報(bào)告價(jià)格】【紙質(zhì)版】:6500 【電子版】:6800 【合訂版】:700..
    09月29日
  • CNAS資質(zhì)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)掃描電鏡分析
    優(yōu)爾鴻信檢測(cè)昆山檢測(cè)中心SEM+EDS分析通過CNAS認(rèn)可,可執(zhí)行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)GB/T17359-2012, JY/T0584-2020,JEDEC-KESD22-A121A-2008(2014)等場(chǎng)掃描電鏡對(duì)樣品要求,如下: 1.樣品要盡可能干燥,若..
    09月30日
  • 掃描電鏡分析CNAS資質(zhì)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)
    SEM+EDS分析: 放大倍數(shù): 5~30萬倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對(duì)象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的: 微區(qū)成分分..
    09月30日
  • 掃描電鏡分析江蘇第三方檢測(cè)中心
    SEM+EDS分析: 放大倍數(shù): 5~30萬倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對(duì)象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的: 微區(qū)成分分..
    09月30日
  • 掃描電鏡專業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)-資質(zhì)齊全
    優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測(cè)中心)成立于1996年,是一家全國(guó)性、綜合性的獨(dú)立第三方檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺(tái)、成都、重慶等全國(guó)主要城市設(shè)有專業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè),主要..
    09月30日
  • 專業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)-資質(zhì)齊全掃描電鏡
    優(yōu)爾鴻信昆山檢測(cè)中心專業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),具備完整的檢測(cè)能力及CNAS資質(zhì),能及時(shí)有效的提供檢測(cè)服務(wù) 包含:環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、尺寸量測(cè)、材料機(jī)械性能測(cè)試、化學(xué)成分分析、清..
    09月30日
  • 掃描電鏡分析專業(yè)第三方檢測(cè)-CANS資質(zhì)
    優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測(cè)中心)成立于1996年,是一家全國(guó)性、綜合性的獨(dú)立第三方檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺(tái)、成都、重慶等全國(guó)主要城市設(shè)有專業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè),主要..
    09月30日
  • 掃描電鏡專業(yè)第三方檢測(cè)-CANS資質(zhì)
    優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)昆山檢測(cè)中心 SEM+EDS分析測(cè)試范圍 1.IMC檢查(IMC Inspection) 2.錫須觀察(Tin Whisker Inspection) 3.元素分析(Element Analysis) 4.金屬顆粒觀察(Observation of me..
    09月30日
  • CNAS認(rèn)可第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)掃描電鏡分析
    優(yōu)爾鴻信昆山檢測(cè)中心專業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),具備完整的檢測(cè)能力及CNAS資質(zhì),能及時(shí)有效的提供檢測(cè)服務(wù) 包含:環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、尺寸量測(cè)、材料機(jī)械性能測(cè)試、化學(xué)成分分析、清..
    09月30日
  • 掃描電鏡第三方檢測(cè)中心
    掃描電鏡(Scanning Electron Microscopy,SEM)是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù),可用于對(duì)形貌和表面特征進(jìn)行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡,SEM不需要樣本薄片,可以直接對(duì)樣品進(jìn)行觀察..
    09月30日
  • 專業(yè)第三方檢測(cè)-CANS資質(zhì)掃描電鏡分析
    優(yōu)爾鴻信昆山檢測(cè)中心專業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),具備完整的檢測(cè)能力及CNAS資質(zhì),能及時(shí)有效的提供檢測(cè)服務(wù) 包含:環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、尺寸量測(cè)、材料機(jī)械性能測(cè)試、化學(xué)成分分析、清..
    09月30日
  • 掃描電鏡
    面議
    優(yōu)爾鴻信昆山檢測(cè)中心專業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),具備完整的檢測(cè)能力及CNAS資質(zhì),能及時(shí)有效的提供檢測(cè)服務(wù) 包含:環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、尺寸量測(cè)、材料機(jī)械性能測(cè)試、化學(xué)成分分析、清..
    09月30日
  • 掃描電鏡分析
    掃描電鏡(Scanning Electron Microscopy,SEM)是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù),可用于對(duì)形貌和表面特征進(jìn)行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡,SEM不需要樣本薄片,可以直接對(duì)樣品進(jìn)行觀察..
    09月30日
  • 第三方檢測(cè)中心掃描電鏡
    優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)昆山檢測(cè)中心具備掃描電鏡分析能力(SEM&EDS分析),可針對(duì)表面異物分析、IMC形貌觀察、錫須觀察、焊點(diǎn)失效分析等進(jìn)行分析測(cè)試。放大倍率可達(dá)30萬倍;EDS通過樣品表面激發(fā)出的..
    09月30日
  • CNAS認(rèn)可第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)掃描電鏡
    SEM+EDS分析: 放大倍數(shù): 5~30萬倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對(duì)象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的: 微區(qū)成分分..
    09月30日
  • TESCAN--場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡MIRA
    TESCAN--場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 MIRA 新一代的MIRA場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)(如改進(jìn)的電子設(shè)備使成像過程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動(dòng)態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償,有內(nèi)置的編程軟件等)..
    09月28日
  • 成都第三方掃描電鏡測(cè)試機(jī)構(gòu)-優(yōu)爾鴻信
    成都第三方機(jī)構(gòu) 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室配有場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡、鎢絲燈掃描電鏡、FIB聚焦離子束、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等電子元件及半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備,可針對(duì)電子元件,半導(dǎo)體部件進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)和失效分..
    09月27日
  • 成都第三方場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)-優(yōu)爾鴻信
    優(yōu)爾鴻信成都檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室配有場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡、鎢絲燈掃描電鏡、FIB聚焦離子束、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等電子元件及半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備,可針對(duì)電子元件,半導(dǎo)體部件進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)和失效分析服務(wù)。 場(chǎng)..
    09月26日
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