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鍍層膜厚測(cè)試儀

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  • 鍍層測(cè)厚儀鍍層厚度檢測(cè)儀電鍍層膜厚儀XRF檢測(cè)儀
    產(chǎn)品說明、技術(shù)參數(shù)及配置 儀器介紹 Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款
    11月10日
  • 鍍層膜厚儀測(cè)厚儀X熒光分析儀
    Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。 2、性能優(yōu)勢(shì) ..
    09月27日
  • 金屬鍍層膜厚儀測(cè)厚儀
    X射線測(cè)厚儀: 利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目..
    09月26日
  • 膜厚分析儀上照式鍍層測(cè)厚儀天瑞分析儀
    Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。 2、性能優(yōu)勢(shì) ..
    09月26日
  • 膜厚分析儀無損鍍層測(cè)厚儀X熒光分析儀
    X射線測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)..
    09月26日
  • 膜厚測(cè)試儀器快速鍍層測(cè)厚儀EDX800A
    Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。 2、性能優(yōu)勢(shì) ..
    09月26日
  • 膜厚分析儀器上照式鍍層測(cè)厚儀天瑞儀器廠家
    X射線測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)..
    09月26日
  • XRF膜厚儀快速鍍層測(cè)厚儀天瑞儀器廠家
    Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。 2、性能優(yōu)勢(shì) ..
    09月27日
  • 上照式鍍層測(cè)厚儀膜厚測(cè)試儀器
    X射線測(cè)厚儀使用而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測(cè)器,以實(shí)在的價(jià)格定位滿足鍍層厚度測(cè)量的要求,且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì),使儀器操作更人性化、更方便。 2、性能優(yōu)勢(shì) ..
    09月27日
  • XRF膜厚儀無損鍍層測(cè)厚儀EDX2000A
    Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。 2、性能優(yōu)勢(shì) ..
    09月27日
  • 電鍍層厚度膜厚儀快速鍍層測(cè)厚儀X熒光分析儀
    集天瑞儀器多年鍍層測(cè)厚檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn),以特的產(chǎn)品配置、功能齊全的測(cè)試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及含量測(cè)定的需要,人性化的設(shè)計(jì),使測(cè)試工作更加輕松完成。 使用而實(shí)用的正比計(jì)..
    09月27日
  • 鍍層膜厚儀上照式鍍層測(cè)厚儀EDX600plus
    X射線測(cè)厚儀: 利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目..
    09月27日
  • 鍍層膜厚儀無損鍍層測(cè)厚儀天瑞儀器
    X熒光測(cè)厚儀采用X熒光分析技術(shù),可以測(cè)定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,它也可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測(cè)定。它能檢測(cè)出常見金屬鍍層厚度,無需樣品預(yù)處理;分析時(shí)間..
    09月27日
  • 金屬鍍層膜厚儀無損鍍層測(cè)厚儀天瑞光譜儀
    Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。 2、性能優(yōu)勢(shì) ..
    09月27日
  • 鍍層膜厚儀無損鍍層測(cè)厚儀XRF光譜儀
    X熒光測(cè)厚儀采用X熒光分析技術(shù),可以測(cè)定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,它也可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測(cè)定。它能檢測(cè)出常見金屬鍍層厚度,無需樣品預(yù)處理;分析時(shí)間..
    09月27日
  • 電鍍膜厚儀快速鍍層測(cè)厚儀EDX2000A
    Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。 2、性能優(yōu)勢(shì) ..
    09月27日
  • X-ray膜厚儀快速鍍層測(cè)厚儀天瑞分析儀
    X射線測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)..
    09月26日
  • 光譜膜厚儀上照式鍍層測(cè)厚儀EDX2000A
    X射線測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)..
    09月26日
  • 鍍層膜厚儀金屬厚度分析儀X射線熒光光譜儀
    X射線測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)..
    09月26日
  • Thick800A膜厚儀上照式鍍層測(cè)厚儀XRF光譜儀
    X射線測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)..
    09月26日
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