礦石檢測(cè)分析儀應(yīng)用于地質(zhì)勘探、礦山測(cè)繪、開采、礦石分選、礦石品位鑒定、金屬冶煉以及環(huán)境監(jiān)控等領(lǐng)域。從理論上講，任何含有鐵元素或鐵化合物的礦石都可以稱為鐵礦石,因此都可以使用科邁斯礦石分析儀；但是，在工業(yè)或商業(yè)上，鐵礦石不同于錳礦石，鐵礦石不僅要含鐵，而且要有利用的價(jià)值。

金屬元素分析儀可以廣泛用于對(duì)鋼鐵、銅鋁及其合金等各種玄色和有色金屬、非金屬材料中的硅、錳、磷、鎳、鉻、銅等多種元素的含量分析，金屬元素分析儀就可以更好的知足冶金、機(jī)械、化工等行業(yè)在爐前、成品、來料化驗(yàn)等方面臨各種材料多元素分析的需要。

隨著各個(gè)行業(yè)對(duì)金屬材料需求不斷增長(zhǎng)，各種復(fù)雜的材料也多起來，金屬成分組成是決定材料的主要因素。因此，金屬成分檢測(cè)方法也在不斷更新，由單一元素檢測(cè)到多個(gè)元素檢測(cè)，不僅快速且非常準(zhǔn)確。金屬成分分析儀是采用XRF（熒光光譜分析）原理，對(duì)金屬材料成分進(jìn)行快速檢測(cè)的儀器。

非金屬分析儀是一種用于分析非金屬材料成分和性能的儀器。它廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域，可以對(duì)非金屬材料的化學(xué)成分、物理性質(zhì)、熱性能、機(jī)械性能等進(jìn)行測(cè)試和分析。 非金屬分析儀的主要功能包括以下幾個(gè)方面：
1. 化學(xué)成分分析：非金屬分析儀可以通過化學(xué)分析方法，對(duì)非金屬材料中的元素成分進(jìn)行定性和定量分析。常用的化學(xué)分析方法包括光譜分析、質(zhì)譜分析、電化學(xué)分析等。
2. 物理性質(zhì)測(cè)試：非金屬分析儀可以對(duì)非金屬材料的物理性質(zhì)進(jìn)行測(cè)試，如密度、硬度、強(qiáng)度、導(dǎo)熱性。

以下是一些常見的非金屬礦石檢測(cè)設(shè)備：
X 射線熒光光譜儀（XRF）：
工作原理：當(dāng) X 射線照射到礦石樣品時(shí)，會(huì)激發(fā)樣品中元素原子的內(nèi)層電子，使其躍遷至高能級(jí)。當(dāng)這些高能級(jí)電子回落到低能級(jí)時(shí)，會(huì)釋放出具有特定能量的特征 X 射線。探測(cè)器捕獲這些特征 X 射線并將其轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)通過分析電信號(hào)得到礦石樣品中各種元素的含量信息。
特點(diǎn)：可快速同時(shí)分析多種元素，從鈉（Na）到鈾（U）的元素范圍均可檢測(cè)，適用于各種形態(tài)的樣品，包括粉末、固體和液體，且無損檢測(cè)，不會(huì)對(duì)樣品造成損害。例如，天瑞儀器的 EDX 4500H 型 X 熒光光譜儀，具有數(shù)字多道技術(shù)，測(cè)試速度快、精度高，能有效分析非金屬礦石中的多種元素。
應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于礦產(chǎn)勘探、礦石品位分析、選礦過程控制以及環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域，可確定礦石的成分和品位，幫助指導(dǎo)開采和加工過程。

電子顯微鏡：
工作原理：利用電子束代替可見光來成像，電子束與樣品相互作用，產(chǎn)生各種信號(hào)，如二次電子、背散射電子等，通過檢測(cè)這些信號(hào)來獲得樣品的表面形貌、結(jié)構(gòu)和成分信息。
特點(diǎn)：具有高分辨率，能觀察到礦石樣品的微觀結(jié)構(gòu)和形貌，可用于分析礦石的晶體結(jié)構(gòu)、礦物共生關(guān)系、雜質(zhì)分布等，還可配備能譜儀進(jìn)行微區(qū)成分分析。
應(yīng)用：在非金屬礦石研究中，用于深入了解礦石的微觀特征，指導(dǎo)礦石的選礦和加工工藝設(shè)計(jì)，以及研究礦石的成因和演化等。例如，在云母礦的研究中，通過電子顯微鏡可觀察云母的晶體結(jié)構(gòu)和層間雜質(zhì)，為云母的提純和應(yīng)用提供依據(jù)。