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拼接式閃測(cè)儀測(cè)量筆記本按鍵外殼
內(nèi)容簡介 拼接式閃測(cè)儀測(cè)量
拼接式閃測(cè)儀，高效精準(zhǔn)測(cè)量筆記本按鍵外殼，具備大視野與高精度特點(diǎn)，可迅速完成二維幾何參數(shù)等非接觸式測(cè)量，為筆記本按鍵外殼的質(zhì)量控制提供堅(jiān)實(shí)保障，助力制造業(yè)數(shù)字化轉(zhuǎn)型與智能制造。
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