電子電氣：電子元器件的失效往往涉及復(fù)雜的物理和化學(xué)過程，失效分析在診斷電子產(chǎn)品的故障原因、優(yōu)化電路設(shè)計(jì)等方面具有重要意義。

失效模式的分類：失效模式可以分為斷裂、腐蝕、磨損、疲勞、變形等。每種失效模式都有其特定的表現(xiàn)形式和原因，分析時(shí)需要根據(jù)具體情況進(jìn)行分類。

失效分析的基本步驟：失效分析通常包括失效現(xiàn)象的觀察、數(shù)據(jù)收集、假設(shè)提出、實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證、結(jié)果分析和報(bào)告撰寫等步驟。每一步都至關(guān)重要，確保分析的準(zhǔn)確性和全面性。

腐蝕失效分析：腐蝕失效通常與環(huán)境因素密切相關(guān)，分析時(shí)需要考察腐蝕產(chǎn)物的成分、腐蝕形態(tài)（如點(diǎn)蝕、應(yīng)力腐蝕開裂等）以及材料與環(huán)境的相互作用。
變形失效分析：變形失效通常是由于材料在過載或高溫下發(fā)生塑性變形導(dǎo)致的，分析時(shí)需關(guān)注材料的應(yīng)力-應(yīng)變曲線、溫度影響以及變形后的微觀結(jié)構(gòu)變化。
失效分析中的環(huán)境因素：環(huán)境因素如溫度、濕度、化學(xué)介質(zhì)等對(duì)失效有重要影響，分析時(shí)需考慮這些因素對(duì)材料性能的影響，特別是在腐蝕和應(yīng)力腐蝕開裂的情況下。