優(yōu)爾鴻信檢測昆山檢測中心SEM+EDS分析通過CNAS認(rèn)可，可執(zhí)行的測試標(biāo)準(zhǔn)GB/T17359-2012, JY/T0584-2020,JEDEC-KESD22-A121A-2008(2014)等

EDS： 入射電子束可停留在被觀察區(qū)域上的任何位置.X射線在直徑1微米的體積內(nèi)產(chǎn)生,可對試樣表面元素的分布進(jìn)行質(zhì)和量的分析。

掃描電鏡測試是材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、電子學(xué)等領(lǐng)域中不可或缺的分析技術(shù)。通過掃描電鏡測試，我們可以深入了解樣品的表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)特征，從而為材料的優(yōu)化設(shè)計、新材料的發(fā)現(xiàn)和研究提供重要依據(jù)。如果您想了解更多關(guān)于掃描電鏡測試的信息，可以來電咨詢。