ICT設(shè)備的制造廠家各異，全球主要ICT自動(dòng)測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠商主要有Agilent Technologies安捷倫(美國(guó))，Teradyne泰瑞達(dá)(美國(guó))、Check Sum（美國(guó)）、AEROFLEX（美國(guó)）、WINCHY瑩琦、Hioki（日本）、IFR(AEROFLEX并購(gòu))、Takaya（日本）、Tescon（日本）, Okano（日本）、系統(tǒng)（臺(tái)灣）、JET(捷智）、TRI（德律）、SRC星河、安碩（ANSO）、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、PTI等等品牌。不同品牌ICT的測(cè)試原理相同或相似。

二手德律TR5001E ICT的功能能在數(shù)秒鐘內(nèi)檢出電路板上的零件-電阻、電容、電感、電晶體、二級(jí)管、穩(wěn)壓二級(jí)管、光偶器、繼電器等零件。能夠先找出制程不良所在，如漏件、錯(cuò)件、開(kāi)路、短路、反向等不良問(wèn)題。能夠?qū)⑸鲜鰡?wèn)題以印表機(jī)印出結(jié)果，包括故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值等，以供維修人員查看。

產(chǎn)量增加：ICT在線測(cè)試儀的檢測(cè)速度非?？?，如300個(gè)元件的線路板約3秒鐘全檢測(cè)，產(chǎn)量可以大大提高。降低成本：A使維修工作簡(jiǎn)單化，維修速度加快，減少維修人員，降低維修成本；B降低因誤判而損壞的元件成本；C減少維修備品庫(kù)存。

使產(chǎn)品一次良品率提高：提供大量的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，以便生產(chǎn)管理者對(duì)生產(chǎn)工藝進(jìn)行及時(shí)監(jiān)督、調(diào)整、管理。 減少操誤判錯(cuò)誤：ICT對(duì)錯(cuò)誤檢測(cè)將準(zhǔn)確穩(wěn)定，避免人員對(duì)故障的錯(cuò)誤猜測(cè)。 減少操作費(fèi)：ICT是一次性對(duì)整板進(jìn)行測(cè)試，也可以同時(shí)測(cè)試多塊聯(lián)板，只需一個(gè)操作員工。產(chǎn)品經(jīng)過(guò)ICT測(cè)試以后，為后段的功能測(cè)試掃除一切隱藏性問(wèn)題。 現(xiàn)代化的電子生產(chǎn)線，ICT58.COM擁有ICT進(jìn)行測(cè)試，是產(chǎn)品質(zhì)量?jī)?yōu)良的卡片，是您接單的得力助手，是客戶發(fā)單的信心！

產(chǎn)品特色 電腦自動(dòng)學(xué)習(xí)并自動(dòng)產(chǎn)生，開(kāi)/短路、Pin Information及IC保護(hù)二極體之測(cè)試程式　 可網(wǎng)路連線，并結(jié)合資料庫(kù)管理及測(cè)試站監(jiān)控程式 Board View功能可即時(shí)顯示不良元件、針點(diǎn)之位置，方便檢修 大型主機(jī)設(shè)計(jì)，高密度SwitchingBoard，高可達(dá)3584測(cè)試點(diǎn) 應(yīng)用IC Clamping Diode技術(shù)，可輔助檢測(cè) BGA 開(kāi)路空焊問(wèn)題 TR518FE是德律科技繼成功推出TR518F之后，運(yùn)用更之零組件及軟體技術(shù)所開(kāi)發(fā)之新一代機(jī)種。

工作電壓：220V 配置：標(biāo)配（320點(diǎn)） 成色：二手九成新 JET-300在線測(cè)試機(jī)（IN CIRCUIT TESTER）是經(jīng)由量測(cè)電路板上所有零件，包括電阻、電容、電感、二極管、晶體管、FET、SCR、LED 和IC等，檢測(cè)出電路板產(chǎn)品的各種缺點(diǎn)諸如：線路短路、斷路、缺件、錯(cuò)件、零件不良或裝配不良等，并明確地指出缺點(diǎn)的所在位置，幫助使用者確保產(chǎn)品的品質(zhì)，并提高不良品檢修效率。

二手TR-5001E元件測(cè)試儀 性，成本低，適合選擇 美國(guó)安捷倫公司針對(duì)SMD IC接腳開(kāi)路難以完整偵測(cè)的問(wèn)題，成功的研發(fā)出Agilent TestJet Technology的技術(shù)以因應(yīng)。本公司在取得安捷倫公司的專利授權(quán)后，已于JET-300 ICT 系統(tǒng)上配備了此技術(shù)，大幅提升了數(shù)位電路板的可偵測(cè)率。電腦主機(jī)板、介面卡或傳真機(jī)、數(shù)據(jù)機(jī)的機(jī)板皆可得到滿意的測(cè)試效果。

定義　在線測(cè)試，ICT，In-Circuit Test，是通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。 是一種元器件級(jí)的測(cè)試方法用來(lái)測(cè)試裝配后的電路板上的每個(gè)元器件

測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上，故障定位準(zhǔn)確。對(duì)故障的維修不需較多知識(shí)。采用程序控制的自動(dòng)化測(cè)試，操作簡(jiǎn)單，測(cè)試快捷迅速，單板的測(cè)試時(shí)間一般在幾秒至幾十秒。