我們的綜合解決方案采用了專屬的吸收襯度增強(qiáng)探測(cè)器，盡可能地吸收低能量光子，同時(shí)盡可能地少吸收降低圖像襯度的高能量光子，從而為您提供擁有出色襯度的成像結(jié)果。此外，可調(diào)節(jié)的傳播相位襯度技術(shù)通過(guò)探測(cè)經(jīng)過(guò)材料后產(chǎn)生折射的X 射線光子信號(hào)，可顯示出那些吸收襯度很低甚至沒(méi)有吸收襯度的特征。

蔡司Xradia 515 Versa 的所有功能均與“定位- 和- 掃描”（Scout-and-Scan） 控制軟件無(wú)縫整合在一起，提供一個(gè)的工作流程境，讓您能夠輕松定位到感興趣區(qū)域和選擇掃描參數(shù)。對(duì)那些使用者經(jīng)驗(yàn)水平各不相同的中心實(shí)驗(yàn)室用戶來(lái)說(shuō)，這款簡(jiǎn)潔易用的系統(tǒng)可謂是理想的選擇。

蔡司DeepRecon Pro 是一項(xiàng)基于人工智能的創(chuàng)新技術(shù)，可為各種應(yīng)用帶來(lái)出色的通量和圖像質(zhì)量?jī)?yōu)勢(shì)。DeepRecon Pro 既適用于單的某個(gè)樣品，也適用于半重復(fù)和重復(fù)工作流程。用戶們現(xiàn)在可以通過(guò)使用極其方便的界面在現(xiàn)場(chǎng)自己訓(xùn)練新的機(jī)器學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)模型DeepRecon Pro 的一鍵式工作流程讓沒(méi)有任何經(jīng)驗(yàn)的用戶也可熟練操作，無(wú)需熟知機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)的。蔡司DeepRecon Custom 適用于重復(fù)性工作流程，可進(jìn)一步提升XRM 性能，DeepRecon Pro。用戶可與蔡司密切合作，開(kāi)發(fā)用戶定制創(chuàng)建的網(wǎng)絡(luò)模型，滿足其重復(fù)性應(yīng)用的需求。

將蔡司原位接口套件添加到您的XRM 中，
來(lái)拓展更多的實(shí)驗(yàn)可能性。為了繼續(xù)幫助突破科學(xué)進(jìn)步的界限，蔡司Xradia Versa 已成功設(shè)計(jì)出業(yè)內(nèi)的三維原位成像解決方案，適用于從高壓流體驅(qū)替、拉伸、壓縮裝置和熱臺(tái)等多種多樣的原位裝置。

您可以為所有的蔡司Xradia Versa 儀器選配原位接口套件，包括機(jī)械集成套件、堅(jiān)固耐用的布線導(dǎo)槽和其它設(shè)施（饋入裝置），以及基于測(cè)試規(guī)程的軟件，它能夠簡(jiǎn)化蔡司“定位- 和- 掃描”（Scout-and-Scan）用戶界面中的操作。在蔡司Xradia Versa 上體驗(yàn)原位裝置高水平的穩(wěn)定性、靈活性和集成控制，得益于其光學(xué)架構(gòu)設(shè)計(jì)，在變化的環(huán)境條件下不會(huì)犧牲分辨率。

處理蔡司顯微鏡所采集的數(shù)據(jù)
? 讀寫(xiě)各種不同格式，包括.txm 和.czi
? 自動(dòng)處理和應(yīng)用宏，以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化工作
流程
? 由蔡司使用
通過(guò)可選模塊擴(kuò)展軟件
? 用于分割的深度學(xué)習(xí)
? 實(shí)現(xiàn)的指標(biāo)的骨分析