單波長(zhǎng)X熒光光譜儀采用X射線熒光光譜(XRF)技術(shù),創(chuàng)新性融合雙彎晶分光系統(tǒng)與波長(zhǎng)色散檢測(cè)技術(shù),通過(guò)雙曲面彎晶的二次聚焦增強(qiáng)效應(yīng),顯著提升了儀器對(duì)輕元素的檢測(cè)性能，檢出限可達(dá)0.16ppm,靈敏度較傳統(tǒng)單彎晶結(jié)構(gòu)提升數(shù)倍以上。

在石油化工領(lǐng)域,原油中殘留的有機(jī)氯化合物具有顯著危害:加工過(guò)程中,氯元素在高溫高壓環(huán)境下會(huì)轉(zhuǎn)化為腐蝕性HCI氣體,造成催化裂化裝置中貴金屬催化劑中毒失活,同時(shí)引發(fā)分餾塔頂冷凝系統(tǒng)應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂,直接威脅設(shè)備安全。EDX3300光譜儀通過(guò)配備氯元素分析通道,配合石油基體校準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)和薄膜樣品制備技術(shù),可實(shí)現(xiàn)原油、燃料油、潤(rùn)滑油等油品中氯含量的測(cè)定，檢測(cè)時(shí)間縮短至300S/樣。傳統(tǒng)的化學(xué)方法測(cè)試原油中有機(jī)氯含量,容易受硫元素和溴、碘等鹵族元素影響,導(dǎo)致測(cè)試準(zhǔn)確度較差。

天瑞儀器的EDX3300光譜分析儀采用X射線熒光分析技術(shù)，與傳統(tǒng)的X射線熒光技術(shù)相比，該技術(shù)使用了的雙曲面彎晶晶體，降低背景噪聲， 大幅提高信噪比，提高產(chǎn)品分析精度

采用“側(cè)照式”樣品將被從側(cè)方重直置入儀器內(nèi)部。該創(chuàng)新設(shè)計(jì)可確保避免意外泄漏的任何樣品不接觸儀器中貴重部件，以方便清理和維護(hù)，避免重大損失。

常壓大氣環(huán)境即可完成快速準(zhǔn)確定量分析液體、粉末等樣品中的硫、氯、硅、磷等輕元素，大幅降低測(cè)試成本，在輕基體下檢出限可以低至 ppm級(jí)別。

EDX3300可以快速準(zhǔn)確定量分析液體、粉末等樣品中的硫、氯、硅、磷等輕元素，在輕 基體下檢出限可以低至 ppm 級(jí)別；針對(duì)食品中鋁、磷、鉀以及工業(yè)應(yīng)用中輕元素有出色的分析性能。