非金屬礦石分析儀具有快速、準(zhǔn)確、無損等特點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于礦產(chǎn)資源開發(fā)、環(huán)境監(jiān)測和質(zhì)量控制等領(lǐng)域。此外，使用礦物分析儀還可以運(yùn)用地理、距離、化學(xué)、材料等綜合有用的找礦方法進(jìn)行綜合有用的找礦作業(yè)，充分發(fā)揮各種資源的利用價(jià)值。其實(shí)地質(zhì)勘探的概率很大。如果選擇合理的勘探方法，可以降低風(fēng)險(xiǎn)，提高勘探精度。

礦石檢測分析儀應(yīng)用于地質(zhì)勘探、礦山測繪、開采、礦石分選、礦石品位鑒定、金屬冶煉以及環(huán)境監(jiān)控等領(lǐng)域。從理論上講，任何含有鐵元素或鐵化合物的礦石都可以稱為鐵礦石,因此都可以使用科邁斯礦石分析儀；但是，在工業(yè)或商業(yè)上，鐵礦石不同于錳礦石，鐵礦石不僅要含鐵，而且要有利用的價(jià)值。

非金屬分析儀是一種用于分析非金屬材料成分、結(jié)構(gòu)和性能的儀器。它可以通過不同的測試方法和技術(shù)，對非金屬材料進(jìn)行化學(xué)分析、物理性能測試和結(jié)構(gòu)分析等。 常見的非金屬分析儀包括掃描電子顯微鏡(SEM)、能譜儀(EDS)、紅外光譜儀(FTIR)、拉曼光譜儀、熱分析儀(TGA/DSC)等。 這些儀器可以通過不同的測試方法提供材料的各項(xiàng)性能指標(biāo)，比如SEM可以觀察樣品表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)，EDS可以進(jìn)行元素分析，F(xiàn)TIR可以分析材料的化學(xué)成分，拉曼光譜儀可以分析材料的分子結(jié)構(gòu)。

以下是一些常見的非金屬礦石檢測設(shè)備：
X 射線熒光光譜儀（XRF）：
工作原理：當(dāng) X 射線照射到礦石樣品時(shí)，會(huì)激發(fā)樣品中元素原子的內(nèi)層電子，使其躍遷至高能級。當(dāng)這些高能級電子回落到低能級時(shí)，會(huì)釋放出具有特定能量的特征 X 射線。探測器捕獲這些特征 X 射線并將其轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)通過分析電信號(hào)得到礦石樣品中各種元素的含量信息。
特點(diǎn)：可快速同時(shí)分析多種元素，從鈉（Na）到鈾（U）的元素范圍均可檢測，適用于各種形態(tài)的樣品，包括粉末、固體和液體，且無損檢測，不會(huì)對樣品造成損害。例如，天瑞儀器的 EDX 4500H 型 X 熒光光譜儀，具有數(shù)字多道技術(shù)，測試速度快、精度高，能有效分析非金屬礦石中的多種元素。
應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于礦產(chǎn)勘探、礦石品位分析、選礦過程控制以及環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域，可確定礦石的成分和品位，幫助指導(dǎo)開采和加工過程。

紅外光譜儀：
工作原理：利用物質(zhì)分子對紅外光的吸收特性進(jìn)行分析。不同的分子結(jié)構(gòu)會(huì)對特定波長的紅外光產(chǎn)生吸收，通過測量樣品對紅外光的吸收光譜，可以獲得分子結(jié)構(gòu)的信息，進(jìn)而識(shí)別礦石中的礦物成分。
特點(diǎn)：能提供豐富的分子結(jié)構(gòu)信息，可用于定性分析非金屬礦石中的有機(jī)物、碳酸鹽、硫酸鹽等礦物成分，操作相對簡便，分析速度較快。
應(yīng)用：常用于非金屬礦石中黏土礦物、有機(jī)質(zhì)等成分的分析，在陶瓷原料、石墨礦、高嶺土等礦產(chǎn)的檢測中應(yīng)用較多。

電子顯微鏡：
工作原理：利用電子束代替可見光來成像，電子束與樣品相互作用，產(chǎn)生各種信號(hào)，如二次電子、背散射電子等，通過檢測這些信號(hào)來獲得樣品的表面形貌、結(jié)構(gòu)和成分信息。
特點(diǎn)：具有高分辨率，能觀察到礦石樣品的微觀結(jié)構(gòu)和形貌，可用于分析礦石的晶體結(jié)構(gòu)、礦物共生關(guān)系、雜質(zhì)分布等，還可配備能譜儀進(jìn)行微區(qū)成分分析。
應(yīng)用：在非金屬礦石研究中，用于深入了解礦石的微觀特征，指導(dǎo)礦石的選礦和加工工藝設(shè)計(jì)，以及研究礦石的成因和演化等。例如，在云母礦的研究中，通過電子顯微鏡可觀察云母的晶體結(jié)構(gòu)和層間雜質(zhì)，為云母的提純和應(yīng)用提供依據(jù)。